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MORE+微儀光電（天津）有限公司是一家集顯微鏡、顯微鏡自動(dòng)化、顯微專(zhuān)用攝像系統(tǒng)及圖像分析系統(tǒng)的研發(fā)、生產(chǎn)及銷(xiāo)售為一體的多元化高科技企業(yè)。公司擁有一支專(zhuān)業(yè)從事顯微儀器應(yīng)用技術(shù)研究，新產(chǎn)品新技術(shù)開(kāi)發(fā)的工程技術(shù)團(tuán)隊(duì)。 在傳統(tǒng)光學(xué)顯微成像技術(shù)上融入了攝像計(jì)算機(jī)分析系統(tǒng)及機(jī)械自動(dòng)化系統(tǒng)，不斷開(kāi)發(fā)出能滿(mǎn)足科研教學(xué)、機(jī)械制造、電子材料、紡織纖維、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油化工、航空航天、計(jì)量科學(xué)、軍事公安、農(nóng)林牧漁等幾乎所有應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行研究分析的新產(chǎn)品和新技術(shù)。 致力于向客戶(hù)提供原位透射電鏡解決方案、臺(tái)式掃描電鏡,掃描電鏡,臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī),sem掃描電鏡,原位掃···
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2024-09-30
SEM掃描電鏡的成像模式介紹
SEM掃描電鏡（Scanning Electron Microscope）即掃描電子顯微鏡，是一種使用電子進(jìn)行成像的顯微鏡，其成像模式多樣，能夠提供關(guān)于材料表面形貌、化學(xué)成分和物理性質(zhì)的不同信息。以下是對(duì)掃描電鏡常見(jiàn)成像模式的介紹：一、次外殼成像模式（SEI） 原理：通過(guò)探測(cè)樣品下方產(chǎn)生的二次電子和表面的次電子來(lái)形成所謂的次表面成像。...
MORE2024-09-29
SEM掃描電鏡對(duì)于超大樣品如何實(shí)現(xiàn)真正的無(wú)損檢測(cè)
掃描電鏡對(duì)于超大樣品實(shí)現(xiàn)真正的無(wú)損檢測(cè)，主要依賴(lài)于超大樣品室掃描電鏡的特殊設(shè)計(jì)和功能。以下是實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)的幾個(gè)關(guān)鍵點(diǎn)：1. 超大樣品室設(shè)計(jì) 腔室大?。撼髽悠肥襍EM掃描電鏡的顯著特點(diǎn)是其腔室體積遠(yuǎn)大于傳統(tǒng)掃描電鏡，這使得它能夠容納更大尺寸的樣品，無(wú)需進(jìn)行切割或破壞即可直接進(jìn)行檢測(cè)。...
MORE2024-09-27
SEM掃描電鏡如何觀(guān)察花瓣和花粉
掃描電鏡在觀(guān)察花瓣和花粉時(shí)，能夠提供高分辨率的微觀(guān)結(jié)構(gòu)圖像，這對(duì)于生物學(xué)、植物學(xué)、農(nóng)學(xué)以及材料科學(xué)等領(lǐng)域的研究具有重要意義。以下是SEM掃描電鏡觀(guān)察花瓣和花粉的基本步驟和注意事項(xiàng)：一、SEM掃描電鏡觀(guān)察前的準(zhǔn)備 樣品采集：花瓣：選擇新鮮、完整、無(wú)損傷的花瓣作為觀(guān)察對(duì)象。...
MORE2024-09-26
SEM掃描電鏡的分類(lèi)介紹
SEM掃描電鏡，即掃描電子顯微鏡，是一種利用聚焦的高能電子束掃描樣品表面，通過(guò)激發(fā)和收集物理信息，對(duì)物質(zhì)微觀(guān)形貌進(jìn)行表征的精密儀器。其分類(lèi)可以從多個(gè)角度進(jìn)行，以下是從電子槍種類(lèi)和掃描方式兩個(gè)主要角度的分類(lèi)介紹：一、按電子槍種類(lèi)分類(lèi) 鎢燈絲掃描電鏡...
MORE2024-09-25
SEM掃描電鏡樣品制樣之如何制備片狀樣品
掃描電鏡樣品制樣中，片狀樣品的制備是一個(gè)重要環(huán)節(jié)。以下是制備片狀樣品的一般步驟和注意事項(xiàng)：一、前處理 取樣：根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求，從待測(cè)材料中切取適當(dāng)大小的片狀樣品。樣品應(yīng)盡可能平整，以減少觀(guān)察時(shí)的傾斜和陰影效應(yīng)。...
MORE2024-09-24
SEM掃描電鏡在半導(dǎo)體行業(yè)方面的應(yīng)用介紹
掃描電鏡在半導(dǎo)體行業(yè)的應(yīng)用廣泛且深入，其作為半導(dǎo)體工藝中不可或缺的檢測(cè)工具，發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。以下是SEM掃描電鏡在半導(dǎo)體行業(yè)方面的主要應(yīng)用介紹：一、實(shí)時(shí)檢測(cè)IC器件結(jié)構(gòu) 掃描電鏡能夠?qū)崟r(shí)檢測(cè)IC（集成電路）器件的結(jié)構(gòu)，通過(guò)其高分辨率的成像能力，可以清晰地觀(guān)察到半導(dǎo)體器件的微觀(guān)形貌。這一功能在半導(dǎo)體工藝的各個(gè)階段都至關(guān)重要，能夠確保器件結(jié)構(gòu)的準(zhǔn)確性和一致性。...
MORE2024-09-23
SEM掃描電鏡可以分析那些元素
掃描電鏡在元素分析方面的能力主要依賴(lài)于其配備的能量色散譜儀（EDS）或其他相關(guān)附件。通過(guò)收集電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的特征X射線(xiàn)，EDS能夠分析樣品表面微區(qū)的元素種類(lèi)與含量。SEM掃描電鏡可以分析的元素包括但不限于：...
MORE2024-09-20
SEM掃描電鏡如何調(diào)整圖像質(zhì)量
掃描電鏡調(diào)整圖像質(zhì)量是一個(gè)綜合性的過(guò)程，涉及多個(gè)參數(shù)的優(yōu)化和調(diào)整。以下是一些關(guān)鍵步驟和注意事項(xiàng)，以確保獲得高質(zhì)量的SEM掃描電鏡圖像：一、選擇合適的加速電壓 加速電壓決定了電子束的能量和穿透能力。較低的加速電壓（如1-5kV）通常適用于高分辨率的表面成像，因?yàn)樗軠p少電子在樣品中的散射，從而提高表面細(xì)節(jié)的分辨率。然而，對(duì)于較厚的樣品，可能需要較高的加速電壓（如10-30kV）來(lái)穿透樣品并獲取內(nèi)部信息。因此，選擇合適的加速電壓是平衡穿透深度和分辨率的關(guān)鍵。...
MORE2024-09-19
SEM掃描電鏡更適合檢測(cè)那些樣品
掃描電鏡因其高分辨率、大景深、制樣簡(jiǎn)單等優(yōu)點(diǎn)，在多個(gè)領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用，尤其適合檢測(cè)以下幾類(lèi)樣品：1. 固體材料 金屬材料：SEM掃描電鏡可以觀(guān)察金屬的表面形貌、微觀(guān)結(jié)構(gòu)和斷口形貌，幫助科學(xué)家了解材料的性能、制備工藝以及斷裂機(jī)制。...
MORE2024-09-18
SEM掃描電鏡的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)介紹
掃描電鏡的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)主要包括以下幾個(gè)方面：一、分辨率 定義：分辨率是SEM掃描電鏡性能的關(guān)鍵指標(biāo)之一，決定了圖像中能夠分辨的Z小細(xì)節(jié)尺寸。范圍：掃描電鏡的分辨率通常在幾納米到幾十納米之間，G端型號(hào)甚至可以達(dá)到0.4納米或以下。...
MORE2024-09-14
SEM掃描電鏡對(duì)于環(huán)境有那些要求？
掃描電鏡對(duì)于環(huán)境的要求非常嚴(yán)格，以確保其能夠正常工作并獲取高質(zhì)量的圖像。這些要求主要包括以下幾個(gè)方面：一、真空環(huán)境 高真空度：SEM掃描電鏡需要在高真空環(huán)境下工作，通常要求真空度在10-4至10-7帕范圍內(nèi)。這是為了避免氣體分子與電子束發(fā)生碰撞，從而保持電子束的穩(wěn)定性和樣品表面的清晰度。高真空環(huán)境能夠減少電子束散射和氣體分子對(duì)成像的干擾，提高圖像質(zhì)量。...
MORE2024-09-13
SEM掃描電鏡的制樣原則介紹
掃描電鏡的制樣原則主要涉及樣品的準(zhǔn)備、處理以及確保樣品在掃描過(guò)程中能夠穩(wěn)定、清晰地呈現(xiàn)其形貌和結(jié)構(gòu)。以下是詳細(xì)的制樣原則介紹：一、樣品基本要求 物理性質(zhì)：樣品應(yīng)為固體，無(wú)毒、無(wú)放射性、無(wú)污染、無(wú)磁、無(wú)水，且成分穩(wěn)定。導(dǎo)電性：樣品需具有一定的導(dǎo)電性，以便將電子束引入樣品并將多余的電荷導(dǎo)出，避免荷電效應(yīng)導(dǎo)致的圖像失真或模糊。對(duì)于非導(dǎo)電樣品，需進(jìn)行導(dǎo)電處理，如鍍金、鍍碳等。...
MORE2024-09-12
你知道SEM掃描電鏡如何制備含水的樣品嗎？
掃描電鏡制備含水樣品的過(guò)程相對(duì)復(fù)雜，需要特別注意樣品的干燥和導(dǎo)電性處理，以確保在真空環(huán)境下能夠獲得高質(zhì)量的圖像。以下是一個(gè)詳細(xì)的制備流程：1. 取材與清洗 取材：選擇合適的生物或含水樣品，確保樣品具有代表性且能夠反映所需觀(guān)察的特征。...
MORE2024-09-11
臺(tái)式掃描電鏡和落地式掃描電鏡對(duì)比
臺(tái)式掃描電鏡與落地式掃描電鏡在多個(gè)方面存在顯著差異，以下是對(duì)兩者主要對(duì)比點(diǎn)的詳細(xì)分析：一、外型尺寸與安裝環(huán)境 臺(tái)式掃描電鏡：體積小巧，通常僅有一臺(tái)臺(tái)式電腦大小，占地面積小，安裝靈活，無(wú)需特殊環(huán)境，甚至可以放置在產(chǎn)線(xiàn)旁、移動(dòng)車(chē)廂內(nèi)，抗擾性強(qiáng)，適合普通實(shí)驗(yàn)環(huán)境。...
MORE2024-09-10
SEM掃描電鏡干燥方法介紹
掃描電鏡干燥方法是樣品制備過(guò)程中至關(guān)重要的一步，它旨在完全去除樣品中的水分或脫水劑，以避免在真空環(huán)境下形成水蒸氣，從而確保掃描電鏡分析的準(zhǔn)確性和圖像質(zhì)量。以下是幾種常見(jiàn)的SEM掃描電鏡干燥方法介紹：1. 空氣干燥法（自然干燥法） 原理：將經(jīng)過(guò)脫水的樣品暴露在空氣中，使脫水劑逐漸揮發(fā)干燥。...
MORE2024-09-09
SEM掃描電鏡維護(hù)保養(yǎng)建議
針對(duì)掃描電鏡的維護(hù)保養(yǎng)，以下是一些具體的建議，旨在確保設(shè)備的長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行和高質(zhì)量成像能力：一、環(huán)境要求 放置環(huán)境：SEM掃描電鏡應(yīng)放置在干燥、清潔、無(wú)塵的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中，避免灰塵和化學(xué)污染物對(duì)設(shè)備造成損害。...
MORE2024-09-06
SEM掃描電鏡在地質(zhì)礦物學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用介紹
掃描電鏡在地質(zhì)礦物學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用極為廣泛，主要得益于其高分辨率、大深度視野、高靈敏度以及非接觸測(cè)量的特性。以下是對(duì)SEM掃描電鏡在地質(zhì)礦物學(xué)領(lǐng)域應(yīng)用的詳細(xì)介紹：一、地質(zhì)礦物形態(tài)與成分分析 表面形貌觀(guān)察：SEM掃描電鏡能夠清晰地觀(guān)察礦物顆粒的表面形貌，如形態(tài)、大小、分布及表面結(jié)構(gòu)特征，這對(duì)于理解礦物的成因、成巖過(guò)程及次生變化具有重要意義。...
MORE2024-09-05
SEM掃描電鏡在有色金屬行業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用介紹
掃描電鏡在有色金屬行業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用非常廣泛，主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：一、微觀(guān)形貌與組織分析 高分辨率成像：SEM掃描電鏡利用極狹窄的電子束掃描樣品表面，通過(guò)收集二次電子等信號(hào)來(lái)形成高分辨率的圖像，能夠清晰地展示有色金屬材料的微觀(guān)形貌，如晶粒結(jié)構(gòu)、相分布、析出物形態(tài)等。...
MORE2024-09-04
SEM掃描電鏡的成品圖片有那些特點(diǎn)
掃描電鏡的成品圖片通常具有以下幾個(gè)特點(diǎn)：高分辨率：SEM掃描電鏡圖片能夠清晰地顯示樣品的細(xì)節(jié)和顯微結(jié)構(gòu)，邊界銳利，不模糊。高分辨率是掃描電鏡圖像的重要特點(diǎn)之一，使得觀(guān)察者能夠看清樣品的微小結(jié)構(gòu)和表面特征。...
MORE2024-09-03
掃描電鏡如何進(jìn)行金屬斷裂失效分析
SEM掃描電鏡在金屬斷裂失效分析中扮演著至關(guān)重要的角色。它通過(guò)高分辨率成像和能譜分析（EDS）技術(shù)，能夠揭示金屬斷裂的微觀(guān)機(jī)制和失效原因。以下是掃描電鏡進(jìn)行金屬斷裂失效分析的主要步驟和關(guān)鍵點(diǎn)：一、樣品準(zhǔn)備 取樣：從斷裂的金屬部件上取下有代表性的樣品，確保樣品包含斷裂區(qū)域及其周?chē)鷧^(qū)域。...
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